半導體芯片測試高低溫一體機

主要用于半導體測試中的溫度測試模擬，具有寬溫度定向和高溫升降，溫度范圍-92℃~250℃，適合各種測試要求.LNEYA致力于解決了電子元器件中溫度控制滯后的問題，超高溫冷卻技術可以直接從300℃冷卻。

半導體芯片測試高低溫一體機

電子元件失效分析的目的是借助各種測試分析技術和分析程序確認電子元器件的失效現象，分辨其失效模式和失效機理，確定其終的失效原因，提出改進設計和制造工藝的建議。防止失效的重復出現，提高元器件可靠性。失效分折是產品可靠性工程的一個重要組成部分，失效分析廣泛應用于確定研制生產過程中產生問題的原因，鑒別測試過程中與可靠性相關的失效，確認使用過程中的現場失效機理。

　　芯片高低溫測試機電子元器件測試系統以其優良的軟硬件性能和完善的服務在航天、航空、電子、郵電、半導體、核工業、兵器等行業得到廣泛的應用。用戶單位包括從事整機研制和生產的研究所和企業，包括從事半導體器件研制和生產的研究所和企業，包括專業從事電子元器件測試篩選的測試中心，也包括一些外資公司和企業。因而創造了良好的經濟效益和社會效益。

目前，無錫冠亞利用制冷加熱動態控溫系統還在針對電子元器件行業的測試工作不斷開發新的產品，為我國的電子元器件測試行業做出發展。